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 高I/O数倒装芯片设计的极限尺寸测试 [2001-01-28] |
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| 随着当今存储器容量增大,倒装芯片上I/O数量不断增多,倒装芯片的面积也越来越大,缺陷发生的可能性也较以前大为增加。本文通过研究底部填充材料的特性,对大型封装(指I/O数量在250个到5,770个,芯片面积从10mm 2 到40mm 2 )的设计制造工艺进行考查,以期达到减少缺陷产生的目...
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| RCC协处理器技术加速网络芯片的设计验证 [2001-01-28] |
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| 目前,因特网应用正呈现爆炸式增长的趋势,数据和语音合并势在必行,网络芯片的设计验证已经成为加快网络芯片上市的主要瓶颈。为了实现完全测试,必须对路由信息包进行优先级处理并增加信息包长度,这样必然增加仿真时间。RCC协处理器技术提供了易用、快捷、完全的流线型验证...
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| 便携式产品低功耗电路设计的综合考虑 [2001-01-28] |
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| 集成电路和计算机系统的发展对低功耗的要求越来越高。本文探讨了低功率电路和系统的发展趋势,分析了功耗产生的主要原因以及与成本的关系,并提出了几种实现低功率的方案。
RF??.T.“Tets”Maniwa
总编辑
Integrated System Design
如今,集成电路和计算机系统正...
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| 适用于高清晰度电视的ADC和DAC转换技术 [2001-01-28] |
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| 随着数字电视和平面显示器的迅猛发展,日常消费电子产品中的视频和图像信号ADC和DAC转换器的应用越来越广泛,本文深入介绍了PC和数字电视的几种不同视频信号转换方式、数据转换器的选择和若干重要的数据转换参数的规范,对中国数字电视设计工程师有一定参考价值。
Bart De...
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| LVDS多点信号传输应用的研究 [2001-01-28] |
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| LVDS用户都希望单个LVDS驱动器能传输信号给多个接收器并可以正常工作,但在某些点上,增加接收器个数将使单个驱动器过载,从而引起系统故障。下面将按最好情况和最坏情况两种模型,讨论并检验接收器所能连接的最大数目。
金?
高级市场工程师
TI
1．最好情况分析
(...
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| 基于NVS结构和设计的服务器芯片组验证方案 [2001-01-28] |
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| 对于服务器芯片组设计来说,要考虑到所有可能的测试组合决非人的能力可为,也没有足够的人力和时间来编制和调试我们能够想到的所有测试项目。随机测试模式生成工具可以解决这个问题,但是,对多处理器服务器来说,合法的事务处理序列比可能的输入序列少得多。本文提出一种加...
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| 两大数字电视广播制式的基本技术、性能比较和竞争趋势 [2001-01-28] |
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| 目前,数字电视广播的制式存在欧洲、北美或日本的三种制式,亚洲许多国家正在用8-VSB、COFDM??M%CF%B5%CD%B3.HTM" target="_blank">COFDM系统及其改进后的COFDM系统进行比较试播。本文从Mark Massel关于数字电视地面广播系统的专著((暂不可见)出版)中节选了部分内容,简要...
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| 使用参数化约束进行PCB设计 [2001-01-28] |
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| 如今PCB设计考虑的因素越来越复杂,如时钟、串扰、阻抗、检测、制造工艺等等,这经常使得设计人员要重复进行大量的布局布线、验证以及维护等工作。参数约束编辑器能将这些参数编到公式中,协助设计人员在设计和生产过程中更好地处理这些有时甚至还会互相对立的参数。
Stev...
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| 在老化的同时进行功能测试 [2001-01-28] |
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| 为了达到满意的合格率,几乎所有产品在出厂前都要先经过老化。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条件下提高其效率？本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案,以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问题。
James Rhodes
总经理
Unigen Operations,Unisys
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| 利用高级算法加速您的测量 [2001-01-28] |
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| 过去,如果想加速测试,您一般会去考虑更改或升级硬件。不过现在,随着labVIEW6i的公布,您的思路可以转变为通过高效的测量分析软件来加速测试进度。新增加的工具中利用了基于FFT的高级算法-音调信息信号提取和频率响应功能(FRF)。利用这些新工具,您就可以开发出能大幅增加...
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