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 物理实现面临的挑战与解决方案 [2002-05-11] |
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| 在传统的方法中,设计工程师很少介入物理设计,因而不得不采用反向追踪方法来发现设计缺陷。在本文介绍的新型设计流程中,设计工程师从规划到出带整个流程中都能够获得物理信息,因而极大地提高了物理实现的速度。
采用0.18微米以下的先进工艺技术设计高性能VLSI芯片将...
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| 用FPGA替代DSP实现实时视频处理 [2002-05-11] |
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| 随着数字融合的进一步发展,系统的设计和实现需要更大的灵活性,以解决将完全不同的标准和要求集成为同类产品时引发的诸多问题。本文介绍FPGA在视频处理中的应用,与ASSP和芯片组解决方案相比,FPGA可根据当前(中国)设计工程师的实际需求提供不同层次的灵活性,并保持明显优...
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| 数字信号控制器的发展和应用 [2002-04-27] |
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| 数字信号控制器(DSC)综合了MCU面向控制的特性以及DSP的快速计算功能,其混合结构能解决很多以前必须依赖MCU和DSP协同解决的工程难题。本文将介绍DSP和MCU的特点以及融合这些特点的DSC器件的特性。文章最后以摩托罗拉公司56800系列DSC为例,针对DSC电机控制的典型应用进一...
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| DC-DC转换器电压输出动态编程的简单方案 [2002-04-27] |
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| 图1为典型的DC-DC转换器配置图。对于许多PWM控制器,电压反馈误差放大器的正向输入端通过内部连接到参考电压V r 。转换器的电压输出连接到由电阻R1和R2组成的分压网络。该设置能实现等于或高于参考电压的稳定输出电压,但在有些电压转换电路的设计中常希望输出电压比参考...
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| 用于验证系统级芯片的COT设计流程 [2002-04-27] |
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| 随着设计工艺水平的提高,系统级芯片的设计难度增大,建立正确的模型是成功设计的关键。拥有一套可靠模型的先决条件是建立合格稳定的半导体制造工艺,而建立起这样一个合格的工艺需要许多步骤。本文将详细讨论1st Silicon与Virtual IP Group公司用于验证COT完整流程的详细...
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| 用新型验证工具缩短复杂IC设计周期 [2002-04-27] |
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| 商业用户和家庭用户都希望视像显示器和投影仪能播放出生动逼真的图像,这就要求传统的多媒体产品设计模块需要有更大、更复杂的芯片,也使得设计人员在集成这些复杂模块时面临重大技术挑战。
Cadence属下的Quickturn公司专门为复杂新兴应用开发和验证创建软件环境,这种...
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| 利用普通数字存储示波器排除嵌入式系统数字类故障 [2002-04-27] |
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| 在现有技术市场条件下,工程师们需要一种低成本高性能的测量仪器,以便为设计和调试工作提供支持。目前有一类工具正在不断发展,可以满足多变的市场需求,这就是数字存储示波器(DSO),它可以应付各种产品内部数字子系统和核心处理器的一些共性要求,如希望速度与数据处理量越...
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| 利用全芯片验证与分析构建纳米存储器 [2002-04-27] |
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| 深亚微米设计对传统的IC设计方法提出了新的挑战,尤其是纳米存储器的设计需要面对大存储容量和复杂的外围解码电路。建立在全芯片分层电路模拟基础上的新方法,能满足纳米技术在大容量、高速度和精度等方面的要求,能有效地减少迭代次数,加快产品的上市。
随着集成电路...
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| 无铅焊接中的材料与工艺问题 [2002-04-25] |
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| 目前很多国家都在积极立法限制铅的使用以保护环境,这也推动了无铅电子组装的应用。但各种新型合金的整合性和可靠性问题现在仍没有彻底解决,到底应选择何种合金已迫在眉睫。本文对Sn/Ag、Sn/Ag/Cu和Sn/Cu合金进行研究,比较这些合金的可靠性试验结果和工艺上的一些问题。 ...
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| 针对0.13 μm以下工艺芯片设计崭新建模方法 [2002-04-13] |
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| 深亚微米设计的速度和复杂性越来越高,一些现有建模技术无法解决的新问题也出现了。本文将探讨0.13微米及更小工艺设计中出现的一些问题,并提出几个新的概念对这些问题进行建模,以便为设计者提供更多的工具来确保设计的一次性成功和快速面市。
随着芯片尺寸的不断缩小...
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