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 无向量测试是测试高速I/O的最佳方法 [2004-01-31] |
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| 大批量半导体芯片制造商必须解决以下这道难题,即如何经济高效地测试嵌入在大型数字系统级芯片设计中的多个多通道高速I/O接口(如PCI Express、HyperTransport和 Infiniband)。虽然结合了闭环操作的片上内置自测试(BIST)被广泛地用来替代昂贵的自动测试设备(ATE),但它仍具...
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| 在移动设备开发中使用多处理器平台 [2004-01-31] |
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| 对于台式计算机来讲,可以用增加CPU时钟速度和存储器容量的方法来支持所有应用,这也意味着成本和功率都会上升,而蜂窝电话在尺寸和功耗方面有很多限制,所以根本无法采用这种简单的方法,而必须使用多处理器方案。
移动电话开始时只是作为一个语音通信系统,但很快就变成一...
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| 基于架构与基于流程的DFT测试方法之比较 [2004-01-31] |
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| ASIC设计的平均门数不断增加,这迫使设计团队将20%到50%的开发工作花费在与测试相关的问题上,以达到良好的测试覆盖率。尽管遵循可测试设计(DFT)规则被认为是好做法,但对嵌入式RAM、多时钟域、复位线和嵌入式IP的测试处理将显著影响设计进度。即使解决了上述所有问题,开发...
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| 大规模IC设计中ASIC、COT和COPD模型的选择策略 [2004-01-31] |
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| 当前的IC设计日益复杂,部分设计规模达到数百万门以上,时钟速度超过千兆赫兹,而且设计周期越来越短。在这种情况下,设计工程师必须考虑很多因素,而不仅仅考虑选择什么样的设计流程来实现其设计目标。ASIC模型、COT(客户自有工具)模型和COPD(客户自有物理设计)这三种设计流...
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| FAT16/FAT32文件系统介绍 [2004-01-31] |
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| 本文旨在给通用PC或数码相机用户介绍文件分配表(FAT)和簇的概念和意义,并介绍12位、16位和32位FAT的特点和不同应用以及未来的发展趋势。
在开发最初的个人计算机时,人们用180KB的软磁盘,不久便采用360KB的双面磁盘。为了组织这些存储设备上数据,最初的DOS系统开发者设...
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| 用跳变故障测试技术检测时延引起的缺陷 [2004-01-31] |
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| 编者按:在检测因时延导致的缺陷方面,传统的功能模式测试方法日益显得不切实际,而基于扫描的跳变故障测试技术则应用得越来越多。在测试投入受限的情况下,可用低成本测试仪实现2种针对跳变故障模型的流行检测方法,并能达到全速测试的大多数要求。
半导体行业现在越来越...
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| 一种新的基于时域方法的EMC测试技术 [2004-01-31] |
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| 本文讨论了宽带时域测量技术应用于测量电磁干扰(EMI)时所具备的优势。宽带时域测量技术用于EMI测量时,其数字信号处理能力使它能够实时仿真传统模拟设备的各种测量模式,如峰值检测模式、平均值检测模式、RMS检测模式和类峰值检测模式。同时,它还能引入诸如相位谱、短时谱...
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| 大型设计中FPGA的多时钟设计策略 [2004-01-31] |
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| 利用FPGA实现大型设计时,可能需要FPGA具有以多个时钟运行的多重数据通路,这种多时钟FPGA设计必须特别小心,需要注意最大时钟速率、抖动、最大时钟数、异步时钟设计和时钟/数据关系。设计过程中最重要的一步是确定要用多少个不同的时钟,以及如何进行布线,本文将对这些设计...
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| 如何利用协处理器方案实现回音消除功能 [2004-01-31] |
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| 回音消除是一项较难实现的电话功能。传统VoIP网关用DSP负责回音消除、压缩及编解码等功能,因此在分配处理能力时需要进行折衷,难以获得最佳的语音质量。本文介绍一种协处理解决方案,它通过将回音消除等成熟功能转移给专用器件完成,从而提高设计灵活性和语音质量,并降低产...
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| 编写属于自己的PCB设计规则检查器 [2004-01-31] |
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| 编写属于自己的PCB设计规则检查器具有很多优点,尽管设计检查器并不那么简单,但也并非高不可攀,因为任何熟悉现有编程或脚本语言的设计人员完全能够设计检查器,这项工作的好处是不可估量的,本文介绍编写PCB设计规则检查器的技巧。
本文阐述了一种编写PCB设计规则检查器(...
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